Методы контроля толщины многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов, Физика

Пример готовой дипломной работы по предмету: Физика

Введение

1 Современные методы контроля толщины в процессе формирования покрытий оптического назначения

1.1 Состояние и перспективы методов контроля оптической толщины покрытий различного функционального назначения

1.2 Фотометрические методы определения оптической толщины тонких покрытий

1.3 Системы контроля оптических характеристик на основе современной компьютерной диагностики

2 Контроль толщины оптических покрытий на основе тугоплавких оксидов формируемых методом электронно-лучевого синтеза

2.1 Фотометрическая система контроля СФКТ-751В

2.2 Встраиваемая система контроля оптических характеристик

Iris-0211

2.3 Синтез однослойных и многослойных покрытий и контроль их оптической толщины

3 Исследование спектральных характеристик многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов и определение их оптических параметров

3.1 Определение фотометрических параметров однослойных и многослойных покрытий на основе тугоплавких оксидов

3.2 Контроль оптических характеристик с помощью спектрального эллипсометра ESM 512

3.3 Программа расчёта интерференционных покрытий

Заключение

Список используемых источников

Приложение А

Содержание