Содержание
Введение 2
Эффект Оже 4
Аппаратное оформление 7
Анализ оже-пиков 13
ЭОС как метод распределительного анализа элементов 16
Возможности метода ОЭС 18
Применение оже-спектроскопии 19
Список использованной литературы 20
Выдержка из текста
Оже — спектроскопия – область электронной спектроскопии, в основе которого лежат измерения энергии и интенсивностей токов вторичных оже-электронов, созда¬ваемых при облучении твердых тел пучком первичных элек¬тронов с энергиями 1-10 кэВ, а так же анализ формы линий спектров оже-электронов, эмитированных атомами, молекулами и твердыми телами в результате оже-эфеккта. Энергия оже-электронов определяется природой испускающих атомов с окружающими, что приводит к небольшим изменениям энергии оже-электронов. Поэтому по оже-спектрам можно определить элементный состав приповерхностных слоев твердых тел, получать информацию о межатомных взаимодействиях, осуществлять химический анализ газа. Оже-спектроскопия газов используется так же для исследования механизма оже-эффекта, основных и возбужденных состояний дважды ионизированных атомов, различных эффектов, связанных с процессом начального возбуждения атома. Анализ элементного состава производится путем сопоставления оже-спектров с табличными данными. Расположение пика в энергетическом спектре оже-электронов несет информацию о химической природе атомов, его амплитуда – об их концентрации. Взаимодействия атома с его окружением проявляются в форме оже-пиков и их энергетических сдвигах.
Оже-эффект был открыт в 1925 г. Пьером Оже, работавшим с рентгеновскими лучами. Метод, в котором возбуждаемые элек¬тронным пучком оже-электроны используются для идентифика¬ции примесей на поверхности, был предложен в 1953 г. Лэндером. Однако чувствительность метода была слишком низкой до 1968 г., когда Харрис предложил дифференцировать кри¬вые энергетического распределения числа электронов от их энергии для получения оже-спектров в форме, привычной в настоящее время. Метод полу¬чил широкое распространение после того, как Вебер и Периа в 1967г. продемонстрировали возможность использования стандартной аппаратуры дифрактометрии медленных электронов в качестве оже-электронных спек¬трометров. В большинстве современных оже-спектрометров применяются анализаторы типа цилиндрического зеркала, что, как было показано Палмбергом и др., позволяет резко увеличить скорость анализа и чувствительность ЭОС.
Список использованной литературы
1. Дорожкин А.А. Ионная оже-спектроскопия : Учебное пособие / А. А. Дорожкин, Н. Н. Петров.— Л. : ЛПИ, 1983 .— 71 с. : ил.
2. Кораблев В.В. Электронная Оже-спектроскопия : Учебное пособие к курсу лекций по физической электронике / В.В. Кораблев ; Ленинградский политех. ин-тут им. М.И. Калинина .— Л. : ЛПИ, 1973 .— 62 с. : ил.
3. Данцер К., Тан Э., Мольх Д. // Аналитика. Систематический обзор. / К. Данцер; М.: Химия, 1981г.
4. Кельнер Р. и др. Аналитическая химия. Проблемы и подходы.М.: Мир, II том. 2004
5. http://www.rusnanonet.ru/
6. http://www.pereplet.ru/
7. http://reslib.com/book/Metodi_analiza_poverhnostej
8. http://fti.udm.ru/cen/ozh.htm