Пример готового реферата по предмету: Электроника
Содержание
Введение
1История развития микроскопии
1.1 Методы световой микроскопии
2Современная микроскопия
2.1Аналитическая электронная микроскопия и методы характеризации материалов
2.2 Просвечивающий электронный микроскоп с компьютерным управлением и управление данными анализа
Заключение
Список литературы
3
5
7
11
13
18
20
21
Выдержка из текста
Введение
На протяжении длительного времени человек жил в окружении невидимых существ, использовал продукты их жизнедеятельности (например, при выпечке хлеба из кислого теста, приготовлении вина и уксуса), страдал, когда эти существа являлись причинами болезней или портили запасы пищи, но не подозревал об их присутствии [1].
Не подозревал потому, что не видел, а не видел потому, что размеры этих микро существ лежали много ниже того предела видимости, на который способен человеческий глаз. Известно, что человек с нормальным зрением на оптимальном расстоянии (25– 30 см) может различить в виде точки предмет размером 0,07– 0,08 мм. Меньшие объекты человек заметить не может. Это определяется особенностями строения его органа зрения [2].
Приблизительно в то же время, когда началось исследование космоса с помощью телескопов, были сделаны первые попытки раскрыть, с помощью линз тайны микромира. Так, при археологических раскопках в Древнем Вавилоне находили двояковыпуклые линзы — самые простые оптические приборы. Линзы были изготовлены из отшлифованного горного хрусталя. Можно считать, что с их изобретением человек сделал первый шаг на пути в микромир.
Тема развития микроскопии сейчас актуальна как никогда. В настоящее время во всем мире уделяется все возрастающее внимание исследованиям атомной структуры вещества приминительно к созданию новых полупроводниковых материалов, наноструктур, углеродных нанотрубок, металлов и сплавов, алмазных пленок, керамик и приборов на их основе. Понимание их строения на наноуровне, а также анализ различных парметров, включая границы раздела и электронные связи в кристаллических решетках, которые во многом определяют прочностные и электронные свойства получаемых новых материалов, влияют как на выбор технологии получения этих материалов, так и на применение в различных приборах.
Постоянный прогресс в развитии методической и приборной базы аналитической просвечивающей электронной микроскопии позволяет не уступать самые передовые позиции таким новейшим методам, как атомно-силовая микроскопия, Оже-микроанализ, РФЭС ВИМС, ЭПР, и различным рентгеновским спектральным методам исследования (например, EXAFS-спектроскопии) [3].
Целью данной работы является показать весь путь развития микроскопии вплоть до настоящего времени. Рассмотреть эволюцию приборов и методов их использования.
Список использованной литературы
1 Shindo D. Hiraga К (1998) High-resolution elec-tron microscopy for materials science. Springer, Tokyo
2.Wentzel G (1927) Zwei Bemerkunger Liber die Zer~streuung Korpuskuiarcr Strahlen als Bcugungser-scheinung. Z Physik 40:590
3.Mott NF, Massey HWW (1965) The theory of atomic collision. Oxford University Press, Oxford
4.Cosslett VE, Thomas RN (1964) Multiple scattering of 5-30 keV electrons in evaporated metal films. I. Total transmission and angular distribution. Br JAppi Phys 15:883
5.McKJnley WA, Freshbach H (1948) The Coulomb scattering of relativistic electrons by nuclei. Phys Rev 74:1759
6.Powell CJ (1976) Cross sections for ionization of inner-shell electrons by electrons. Rev Mod №f’ *S:33
7.Powelt CJ (1976) Use of Monte Carlo calculations. National Bureau of Standards Special Publication 460. NBS, Washington, DC, p. 97
8.Goldstein JI, Costley JL, Lorimer GW, Reed SJB (1977) Quantitative X-ray analysis in the electron microscope. В сборнике: Johari О (ed) Proceed-ings of the workshop on analytical electron microscopy, scanning electron microscopy, Chicago, vol. К p, 315
9.Lee C-W, Kidu S, Oikawa T, Shindo D (2001) Estimation of electron beam broadening. Proceedings Microscopy and Microanalysis, Long Beach, California, vol 7. Springer, New York, p 204
10.Shindo D, Hiraga K, Hirabayashi M, Kikuchi M, Syono Y, Furuno S, Hojou K, Soga T, Otsu H (1989) In situ observation of oxygen K-edge tine struc ture of YBa 2Cu 3G7 by EELS. J Electron Microsc 38:155
11.Shindo D, Hiraga K, Hirabayashi M, Kobayashi N, Kikuchi M, Kusaba K, Syono Y. Muto Y(1988) Analytical electron microscopic study of high-T. superconductor Bi-Ca-Sr-Cu-O Jpn J. Appl. Phys. 27:L2048
12.Taniyama A, Shindo D, Hiraga K, Oikawa % Kersker M (1997) Database of electron microscope images on the World Wide Web. In: Proceedings Microscopy and Microanalysis, Cleveland. Springer, New York, p. 1105
13. Shindo D, Ikematsu Y, Lim S-H, Yonenaga I (2000) Digital electron microscopy on advanced materials. Mater Characterization 44:375
14. Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы, Киев. «Техшка», 1976, 168 с.
15. Сушкин Н.Г. Электронный микроскоп, М. 1949. – 274 с.
