Пример готового реферата по предмету: Метрология
Содержание
Введение 3
1 Измерение малых электрических величин 4
2 Измерение малых механических величин 6
Заключение 10
Список использованных источников 11
Выдержка из текста
В микроэлектронике и в нанотехнологиях необходимы самые разнообразные приборы для измерения постоянных и переменных токов и напряжений, параметров пассивных и активных компонентов, обеспечения электропитания устройств на них и т. д. и т. п.
Для микроэлектроники и нанотехнологий характерен как относительно медленный дрейф результатов измерений в ходе тестирования, так и быстрый дрейф, вызванный шумами. Это вынуждает усложнять приборы для тестирования устройств и вводить в них новые методы измерения, например импульсные, с автоматической коррекцией нуля и т. д [1].
Целью данного реферата является рассмотрение величин, размер которых минимальных. При этом реферат состоит из двух глав, в первой из которых анализу подвергаются электрические параметры, а во второй рассматриваются сверхмалые механические величины.
Список использованной литературы
1. Дьяконов В. П. Intel. Новейшие информационные технологии. Достижения и люди. — М.: СОЛОН-Пресс, 2004.
2. A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications, 1st Edition (c), Keithley. 2007.
3. Зи С. Физика полупроводниковых приборов: в 2 т. — М.: Мир, 1984.
4. Схемотехника устройств на мощных полевых транзисторах: справочник /В. В. Бачурин, В. Я. Ваксембург, В. П. Дьяконов, А. А. Максимчук, В. Ю. Смердов и А. М. Ремнев; под ред. В. П. Дьяконова. — М.: Радио и связь, 1994.
5. Дьяконов В. П., Максимчук А. А., Смердов В. Ю., Ремнев А. М. Энциклопедия устройств на полевых транзисторах / под ред. В. П. Дьяконова. — М.:СОЛОН-Р, 2002.
